OPTO-EDU A63.7235 Hochleistungsfeld-Emissions-Scan-Elektronenmikroskop 12KV 600000x
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Hervorheben
Elektronenmikroskop zur Erfassung von Feldemissionen 12KV
,Mikroskop mit hohem Durchsatz 600000x
,OPTO-EDU SEM mit hoher Vergrößerung
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ElektronenkanoneSchottky Typ Wärmefeldemission Elektronenquellstrahlstromstabilität <1%/Tag
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Objektives ObjektivsystemSorril ™ Elektromagnetische Verbindung Objektiv Probenstadium der Verzögerungsmodus
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Standardarbeitsabstand1,5 mm
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Maximales Sichtfeld100um (Standardarbeitsabstand) 1 mm (maximaler Arbeitsabstand)
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Elektronendetektor (Standard)In-Säulen-SE-Detektor In-Lens BSE-Detektor
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WD -HöhenerkennungFokus Tracking ™ Automatisches Fokus -Tracking -System
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HerkunftsortCHINA
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MarkennameCNOEC, OPTO-EDU
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ZertifizierungCE, Rohs
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ModellnummerA63.7230
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Dokument
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Min Bestellmenge1 PC
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PreisFOB $1~1000, Depend on Order Quantity
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Verpackung InformationenKarton-Verpackung, für den Export Transport
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Lieferzeit5 bis 20 Tage
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ZahlungsbedingungenT/T, West Union, Paypal
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Versorgungsmaterial-Fähigkeit5000 PC Monat
OPTO-EDU A63.7235 Hochleistungsfeld-Emissions-Scan-Elektronenmikroskop 12KV 600000x
OPTO-EDU A63.7235 Hochleistungsfeld-Emissions-Scan-Elektronenmikroskop 12KV 600000x
Wesentliche Merkmale
- Auflösung 1,5nm@1Kv, automatische Akquisition Großbild bis cm2 Größe
- Doppelkanal-Synchrone Bildgebung von SE und BSE jeweils 100M Pixel/s
- Umfassende Bildgeschwindigkeit > 10 Mal höher als bei herkömmlichen Elektronenmikroskopen
- Schnelle Generierung von Datenanalysereports aus massiven SEM-Bildern
- Materialcharakterisierung im Querschnitt von Millimeter bis Nanometer
Das A63.7235 High-Throughput Field Emission Scanning Electron Microscope ist für die Querschnittscharakterisierung und Analyse von großflächigen SEM-Proben konzipiert und wird in der Forschung und Industrie weit verbreitet.Seine automatisierte ultra-hohe Geschwindigkeit Nano-Bildgebungstechnologie bietet eine außergewöhnliche Bildgebung Erfahrung.
Kernkompetenzen:
- Auflösung 1,5nm@1Kv, automatische Akquisition Großbild bis cm2 Größe
- Doppelkanal-Synchrone Bildgebung von SE und BSE jeweils 100M Pixel/s
- Umfassende Bildgeschwindigkeit > 10 Mal höher als bei herkömmlichen Elektronenmikroskopen
- Schnelle Generierung von Datenanalysereports aus massiven SEM-Bildern
- Materialcharakterisierung im Querschnitt von Millimeter bis Nanometer
Das von Opto-Edu unabhängig entwickelte Hochleistungsfeld-Emissions-Scan-Elektronenmikroskop A63.7235durch systematisches und innovatives Design in der Bildgebungstechnologie eine hohe Durchsatzleistung erzielt, Bewegungsplattform, Schaltkreissteuerung und intelligente Algorithmen, mit Bildschirmgeschwindigkeiten, die die herkömmlichen Elektronenmikroskope um Dutzende von Malen übersteigen.Überwindung der Beschränkungen der traditionellen SEM-Technologie bei der Geschwindigkeit, Genauigkeit und Probenschäden.
Technische Spezifikation
| Elektronenoptische Linsen | |
|---|---|
| Elektronenpistole | Schottky-Typ Wärmefeldemission Elektronenquellenstrahl Stromstabilität < 1%/Tag |
| System der Objektivlinsen | SORRILTM Elektromagnetische Verbindungslinse Probe-Stufen-Verzögerungsmodus |
| Entschließung | 1.5 nm @ 1 kV 1.3nm @ 3kV |
| Untertaucherelektromagnetische Linse (*1) | |
| Beschleunigungsspannung | 0.1-12 kV kontinuierlich einstellbar (*2) |
| Vergrößerung | 500 X ~ 600 000 X (SEM-Bild) 1X-600X (optische Navigation) |
| Strahlstrom | 50pA bis 30nA (*3) |
| Standardarbeitsdistanz | 1.5 mm |
| Höchstsichtfeld | 100um (Standardarbeitsentfernung) 1 mm (maximale Arbeitsentfernung) |
| Elektronenstrahl-Blanker | Elektrostatischer Blanker |
Erweiterte Funktionen
▶ Ultraschnelle Bildgebung
- Durch unabhängig entwickelte Hardware- und Softwareentwürfe erzielte zweikanal synchrone Bildgebung von Sekundärelektronen und zurückstreuten Elektronen: hochauflösende Bildgebung auf Videoebene
- Hochdefinitions-Framerate auf Videoebene ermöglicht die Echtzeitbeobachtung dynamischer Veränderungen der Proben
▶ Hochwertige Bildqualität
- Ein einzigartiges Eintauchen-elektromagnetisches Verbundlinsen-System reduziert optische Abweichungen effektiv
- Elektrostatisches Ablenkungs-System reduziert Bildrandverzerrung
- In-Lens SE und BSE Halbleiter-Direktelektronendetektoren ermöglichen eine gleichzeitige Hochgeschwindigkeitsbildaufnahme in zwei Kanälen
- Aktives Kompensationssystem beseitigt Umweltstörungen
▶ Kreuz- und Großbildgebung
- Ultra-Hochgeschwindigkeits-Scan-Bildgebung mit vollautomatischem Fokussierungssystem
- Algorithmen für die Bildverarbeitung durch KI ermöglichen eine vollautomatische, ununterbrochene Matrix-Scan mit hoher Auflösung
- Automatisches Nähen zur Erstellung von Panoramabildern mit großer Auflösung auf Nanometerebene
▶ Intelligente Analyse
- Intelligente Analyse großer Datenmengen, schnelle Erstellung von Berichten über Datenanalyse
- Intelligente Bildverarbeitung, maßgeschneiderte Bildmessung, Statistik und Analyse
▶ Einfache Bedienung
- Vollautomatisches Probenladen und -navigation, einmaliger Probenersatz
- Großfeldoptische Bildnavigation verbindet sich nahtlos mit SEM-Bildgebung
- 24/7 vollautomatisierter unbemannter Betrieb
Anwendungsbeispiele
Beobachten Sie die Mikrostruktur von Zellen in Maushirn, Herz, Leber und Niere unter der elektronischen Mikroskopie, indem Sie Arrays Scan verwenden, um eine vollautomatische Untersuchung von Zielgebietsproben durchzuführen.
Die Probe wird mit Hilfe einer kontinuierlichen Schneidmethode zubereitet, wobei bis zu hunderte Scheiben gesammelt, auf einen Probekreis gelegt und auf einmal in den SEM geladen werden.
Pathologische Analyse: Sammeln Sie umfassend alle detaillierten Informationen über die gesamte Scheibe und zoomen Sie auf jeden Bereich ein, um die subzelluläre Organell-Ultrastruktur des Nierengewebes deutlich zu beobachten.
Anmerkungen
* Hinweis:
①: Optionale elektromagnetische Linsen ohne Eintauchen zur Beobachtung ferromagnetischer Materialien
②: Optional 0 ~ 30 kV Elektronenpistolen
③: Optional 100nA
④: Optional Laserinterferometer
①: Optionale elektromagnetische Linsen ohne Eintauchen zur Beobachtung ferromagnetischer Materialien
②: Optional 0 ~ 30 kV Elektronenpistolen
③: Optional 100nA
④: Optional Laserinterferometer
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