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OPTO-EDU A63.7004 Single-Crystal Filament Scanning Electron Microscope SE BSE 360000x 3nm@20KV

OPTO-EDU A63.7004 Einkristall-Filament-Rasterelektronenmikroskop SE BSE 360000x 3nm@20KV

  • Resolution
    3nm@20KV
  • Magnification
    360000x
  • Electron Gun
    LaB6
  • Voltage
    3-20KV
  • Detector
    BSE+SE
  • Navigation CCD
    CCD+Cabin Camera
  • Place of Origin
    China
  • Markenname
    CNOEC, OPTO-EDU
  • Zertifizierung
    CE, Rohs
  • Model Number
    A63.7004
  • Dokument
  • Minimum Order Quantity
    1 pc
  • Preis
    FOB $1~1000, Depend on Order Quantity
  • Packaging Details
    Carton Packing, For Export Transportation
  • Delivery Time
    5~20 Days
  • Payment Terms
    T/T, West Union, Paypal
  • Supply Ability
    5000 pcs/ Month

OPTO-EDU A63.7004 Einkristall-Filament-Rasterelektronenmikroskop SE BSE 360000x 3nm@20KV

  • Vergrößerung 360000x Auflösung 3nm@20KV mit Detektor SE+BSE+CCD, EDS optional
  • Standard-X/Y-motorisierte Arbeitsstätte, optional 3 Achsen X/Y/Z, 5 Achsen X/Y/Z/R/T
  • Einzelkristall LaB6 Filament-Kartusche Spannung 20kV, Lebensdauer >1500 Stunden
  • Hochvakuumsystem mit mechanischer Drehpumpe, um Vakuum in 30 Minuten zu bekommen
  • Ein Schlüssel Autofokus, automatische Helligkeit & Kontrast Anpassung, keine Notwendigkeit Stoßdämpfer Tabelle
OPTO-EDU A63.7004 Einkristall-Filament-Rasterelektronenmikroskop SE BSE 360000x 3nm@20KV 0
 
OPTO-EDU A63.7004 Einkristall-Filament-Rasterelektronenmikroskop SE BSE 360000x 3nm@20KV 1

A63.7004 Desktop-Scan-Elektronenmikroskope (SEM), aktualisieren Sie die Waffe von Wolfram auf LaB6.Sie beinhalten zahlreiche innovative Technologien, die nicht nur eine ausgezeichnete Bildverarbeitung, sondern auch eine hohe Portabilität bieten und für eine Vielzahl von Anwendungsbedürfnissen sorgen.Sowohl auf nationaler als auch auf internationaler Ebene, die ZEM-Serie, mit ihrer High-End-Positionierung und den vielfältigen Modellen, hat fortschrittliche Standards in der Bildklarheit, Benutzerfreundlichkeit und Systemintegration erreicht.

 

A63.7004Die Benutzeroberfläche ist einfach, leicht zu erlernen und zu bedienen, so dass auch nicht-experte Benutzer schnell erlernen können.Die begleitende Software unterstützt den gesamten Arbeitsablauf von der Probenvorbereitung über die Parameteranpassung bis hin zur Bildanalyse und bietet so eine integrierte und effiziente Lösung.A63.7004hat sich in verschiedenen Bereichen wie neuen Materialien, neuer Energie, Biomedizin und Halbleiter stark analysiert,Unterstützung von Forschern bei der Erforschung der Geheimnisse der mikroskopischen WeltAufgrund ihres ausgezeichneten Kosten-Leistungs-Verhältnisses ist die ZEM-Serie eine bevorzugte Wahl für viele Universitäten, Forschungseinrichtungen,und Unternehmen, die ein Desktop-Scan-Elektronenmikroskop suchen.

 

Der A63.7004 Benchtop SEM nutzt eine größere Bandbreite an Beschleunigungsspannungen, 1Kv-Schritte und eine maximale Vergrößerung von 360,000x mit einer Auflösung von bis zu 5 nm Der Tablettop-Verzögerungsmodus ermöglicht die Echtzeitbeobachtung von Produkten mit geringer Leitfähigkeit ohne GoldsprühenDer extra-große Probenabteil kann mit einer Vielzahl von In-situ-Erweiterungsplattformen integriert werden, um unterschiedliche Versuchs- und Inspektionsanforderungen zu erfüllen.

OPTO-EDU A63.7004 Einkristall-Filament-Rasterelektronenmikroskop SE BSE 360000x 3nm@20KV 2

Arbeitsbedingungen:

Umweltanforderungen: Kleine Größe, die gesamte Maschine kann auf einem gewöhnlichen Labortisch platziert werden, es ist nicht erforderlich, einen zusätzlichen Stoßdämpfer zu installieren.

1.Stromversorgung 220V, 50Hz, 1KW

2.Temperatur: Betriebstemperatur der Umgebung: 15°C-30°C

3.Feuchtigkeit: < 80% RH

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OPTO-EDU A63.7004 Einkristall-Filament-Rasterelektronenmikroskop SE BSE 360000x 3nm@20KV 4

Hauptspezifikation:

1Beschleunigungsspannung: 3 bis 20 kV, kontinuierlich einstellbar.

2Elektronenpistoletyp: vorgerichtetes Einzelkristall-LaB6-Glas, Lebensdauer 1500 Stunden, hochintegrierte zweistufige Pistoletlinse, keine manuelle Anpassung des Zwerchfellens.

3. Vergrößerung ≥ 360000X".

4. Entschließung:≤3nm@20KV

5- Detektor: Sekundärelektrondetektor (SE), Vierfacher Rückstreuendetektor (BSE),

6- Bühne: 2 Achsen XY motorisierte Bühne, bewegliche 60x55mm".

7Maximale Probengröße: 100*78*68,5 mm, während sich die XY-Achsen frei bewegen

8. Probewechsel und hohe Vakuumpumptemperatur ≤ 90°C.

9. Hochvakuumsystem: mechanische Pumpe, Turbomolekülpumpe, Ionenpumpe, Vakuum in der Probenkammer ≥ 4x10-2Pa, vollautomatische Steuerung;

10. Video-Modus ≥ 512x512 Pixel, keine Notwendigkeit für kleine Fenster-Scannen.

11. Schneller Scanmodus: Aufnahmezeit≤3 Sekunden, 512x512 Pixel.

12. Langsamer Scanmodus: Aufnahmezeit≤40 Sekunden, 2048x2048 Pixel.

13. Bilddatei: BMP, TIFF, JPEG, PNG.

14. Ein-Taste automatische Anpassung der Helligkeit und Kontrast, Autofokus, große Bild nähen

15- Navigationsfunktion: Optische Kamera-Navigation und Kabinenkamera.

16. Bildmessfunktion: Entfernung, Winkel usw.

17Einschließlich Computer und Software, Maussteuerung.

18- Optional:

- aus Tungstenfilament (20 Stück/Kiste)

-- EDS

--3 Achse Motorisierte Bühne XYZ

--3 Achse Motorisierte Bühne XYT

--5 Achsen Motorisierte Bühne XYZRT

-- Niedrigvakuum (1-60 Pa)

--In-Situ-Stufe aus der Originalfabrik, Heizung, Kühlung, Dehnung usw.

-- Verzögerungsmodus, 1-10KV, kann ohne Goldsprühen nichtleitende oder schlecht leitfähige Proben beobachten, nur für den BSE-Modus

--Schockdämpfende Plattform (Empfehlung für A63.7004)

19. Mikroskopgröße 650*370*642mm, mechanische Pumpe 340*160*140mm

 
 
OPTO-EDU A63.7004 Einkristall-Filament-Rasterelektronenmikroskop SE BSE 360000x 3nm@20KV 5
Modell A63.7001 A63.7002 A63.7003 A63.7004 A63.7005
Entschließung 10nm@15KV 6nm@18KV 4nm@20KV 3nm@20KV 2.5nm@15KV
Vergrößerung 150000x 200000x 360000x 360000x 1000000x
Elektronenpistole Wolfram Wolfram Wolfram LaB6 Schotty FEG
Spannung 5/10/15KV 3 bis 18 KV 3 bis 20 KV 3 bis 20 KV 1 bis 15 KV
Detektor BSE+SE BSE+SE BSE+SE BSE+SE BSE+SE
Navigations-CCD CCD CCD CCD+Kabinenkamera CCD+Kabinenkamera CCD+Kabinenkamera
Vakuumzeit 90er Jahre 90er Jahre 30er Jahre 90er Jahre 180er Jahre
Vakuumsystem Mechanische Pumpe
Molekulare Pumpe
Mechanische Pumpe
Molekulare Pumpe
Mechanische Pumpe
Molekulare Pumpe
Mechanische Pumpe
Molekulare Pumpe
Ionenpumpe
Mechanische Pumpe
Molekulare Pumpe
Ionenpumpe x2
Vakuum Hohe Vakuum
1x10-1Pa
Hohe Vakuum
1x10-1Pa
Hohe Vakuum
1x10-1Pa
Hohe Vakuum
5x10-4Pa
Hohe Vakuum
5x10-4Pa
Bühne XY-Stufe,
40x30/40x40 mm
XY-Stufe,
40x30/40x40 mm
XY-Stufe,
60x55 mm
XY-Stufe,
60x55 mm
XY-Stufe,
60x55 mm
Bühnenpräzision - Position genaue 5um
Arbeitsdistanz 5 bis 35 mm 5 bis 35 mm 5 bis 73,4 mm 5 bis 73,4 mm 5 bis 73,4 mm
Maximaler Exemplar 80x42x40 mm 80x42x40 mm 100 x 78 x 68,5 mm 100 x 78 x 68,5 mm 100 x 78 x 68,5 mm
Zusätzlich Wolframfilament 20 Stück/Box Lab6 Filament Feldemissionsleuchte
EDS Oxford AZtecOne mit XploreCompact 30
- Niedriges Vakuum 1-100 Pa Niedriges Vakuum 1-30 Pa
- Z-Achsenmodul 3 Achsen Bühne, X 60 mm, Y 50 mm, Z 25 mm
- T-Achsenmodul 3 Achsen Stufe, X 60 mm, Y 50 mm, T ± 20°
- - 5 Achsen Stufe, X 90 mm, Y 50 mm, Z 25 mm, T ± 20°, R 360°
- - Stoßdämpfende Plattform für 3 Achsen, 5 Achsen Stufe
- Verzögerungsmodus 1-10KV zur Beobachtung nicht leitfähiger Proben, nur für BSE
- In-Situ-Stufe von der Originalfabrik, Heizung, Kühlung, Dehnung usw.
UPS
 
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OPTO-EDU A63.7004 Einkristall-Filament-Rasterelektronenmikroskop SE BSE 360000x 3nm@20KV 12
 
OPTO-EDU A63.7004 Einkristall-Filament-Rasterelektronenmikroskop SE BSE 360000x 3nm@20KV 13
 
OPTO-EDU A63.7004 Einkristall-Filament-Rasterelektronenmikroskop SE BSE 360000x 3nm@20KV 14

AZtecOne mit XploreCompact 30 für TTM

 

Systemkonventionelle Bildungsanalyse

Das System ermöglicht eine qualitative und quantitative Analyse verschiedener Materialien, wobei neben einzelnen Punktuntersuchungen der Probenoberfläche Elemente von B ((5) bis cf (98) analysiert werden.Leistungsstarke Linienscans und elementare Spektralscans sind ebenfalls verfügbar. mit einem individuellen Detektor kombiniert, können Analyse und Berichterstattung in Sekunden erfolgen.

 
Wirksame Kristallfläche 30 mm2 Auflösung (von einem Foto) Bei der Verwendung von Metallen mit einem Gehalt an Kohlenwasserstoffen von weniger als 0,5%
Elementarerkennungsbereich B (5) bis vf (98) Höchste Eingabezahlrate > 1,000,000 cps
 
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