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OPTO-EDU A63.7230 Scanning Transmission Electron Microscope STEM 50KV 800000x

OPTO-EDU A63.7230 Scanning Transmission Elektronenmikroskop STEM 50KV 800000x

Aufnahmemodus

BF/DF (Helles Feld/Dunkles Feld)
STEM-Modus Landeanspannung

50KV
Detektortyp

Halbleiter-Direkt-Detektor
Elektronenkanone

Schottky-Typ-Thermische Feldemission
Elektronenstrahlstrom

50pA bis 100nA
Probephase

X=±4mm, Y=±4mm, Positionierungsgenauigkeit 1um
Herkunftsort

China
Markenname

CNOEC, OPTO-EDU
Zertifizierung

CE, Rohs
Modellnummer

A63.7230
Dokument

Produktbroschüre PDF
Min Bestellmenge

1 Prozent
Preis

FOB $1~1000, Depend on Order Quantity
Verpackung Informationen

Karton-Verpackung, für den Export Transport
Lieferzeit

5 bis 20 Tage
Zahlungsbedingungen

T/T, Westverband, Paypal
Versorgungsmaterial-Fähigkeit

5000 PC Monat

OPTO-EDU A63.7230 Scanning Transmission Elektronenmikroskop STEM 50KV 800000x

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1x-500x Optik, 500x-800000x STEM, hohe Auflösung 1.0nm@50kV, Unterstützung von BF/DF
Brandneues Design 5 Proben-Ladungssystem, ein Set-up auf alle Proben leicht angewendet
Ultra-Hochgeschwindigkeits-Bildfassung 100MB/s, Single 24k x 24k Bildfänger in 6,5s
Scan & Stitch Full FOV Großbild, unabhängiger Betrieb von Großfeld und hochauflösender Bildgebung
KI-Software zur Analyse von Mikropartikelbildern unterstützt Ultra-Large FOV 100um@25nm, hocheffiziente Erkennung und Messung

Rapid Automatic Micro-Particle Imaging Analysis System (RASIP) ist ein System zur Analyse von Mikropartikelbildern, das sich durch die Anwendungen von Mikro-Partikeln erfasst.

A63.7230 ist ein schnelles, intelligentes, vollautomatisiertes Scanning-Transmission-Elektronenmikroskop (STEM) mit vollständig unabhängigen Rechten an geistigem Eigentum bei 50 KV.Es erfüllt die Anwendungsbedürfnisse in Bereichen wie der Beobachtung der Virusmorphologie, Impfstoff-Zellbank-Sicherheitstests, Impfstoffforschung und -fertigung, klinische pathologische Gewebe-Slice-Forschung und biologische Forschung zu Brain Neural Connect Omics.

A63.7230 Kerntechnologie

- Ich weiß.High-Resolution High-Brightness Elektronoptisches System

100M/s ultra-Hochgeschwindigkeits-Bildgebung bei 50KV. Das System verfügt über eine Video-Analyse (25fps@2k*2k) im Nanobereich,die voll automatisierte Informationsgewinnung ohne Auslassungen bei hoher Auflösung ermöglicht.

- Ich weiß.Hochempfindlicher direkter Elektrondetektor

Alle Detektoren von A63.7230 verwenden unabhängig entwickelte direkte Elektrondetektoren, die Elektronen direkt in elektrische Signale umwandeln.mit einer Erkennungswirksamkeit von mehr als 80% und einem höheren Signal-Rausch-Verhältnis (SNR).

- Ich weiß.Schnelle Umstellung zwischen Großfeld- und hochauflösender Bildgebung

Innovatives elektronoptisches Design ermöglicht die unabhängige Betätigung von großflächigen Bildgebungen und hochauflösenden Bildgebungen und ermöglicht schnelles Schalten, präzise Partikelidentifizierung und Positionierung,und schnelle hochauflösende Bildgebung.

- Ich weiß.Hochgeschwindigkeits- und hochstabile mechanische Bewegungsplattform

Verwendet eine vibrationsfreie Bewegungsplattform, X=±4mm, Y=±4mm, Positionierungsgenauigkeit 1um.

A63.7230 Elektronenmikroskop mit Übertragungsscanner (STEM)
Entschließung	1.0nm@50kV
(1nA Strahlstrom unter optimalen Bedingungen)	1.0nm@50kV
Bildmodus	BF/DF (Helles Feld/Dunkles Feld)
STEM-Modus Landeanspannung	50 KV
Detektortyp	Halbleiter-Direktdetektor
Vergrößerung	1X-500X (Optische Bildgebung mit geringer Vergrößerung)
Vergrößerung	500X - 800.000X (STEM-Bilder)
Elektronenpistole	Schottky-Typ Wärmefeldemission
Elektronenstrahlstrom	50pA bis 100nA
Probephase	X=±4mm, Y=±4mm, Positionierungsgenauigkeit 1um
Bildentwicklung	Kann die Abbildung einer Fläche von 1x1 mm2 bei 4 nm Pixel innerhalb von 0,5 Stunden abschließen
Ultra-Hochgeschwindigkeits-Bildfassung	100 MB/s, ein einzelnes 24k x 24k Bild dauert nur 6,5 Sekunden zu erfassen
Erwerbsmethode	STEM-Erfassung von hellem Feld (BF) oder dunklem Feld (DF)
High-Throughput-Elektronenmikroskop-Steuerungssoftware	Ausgestattet mit automatischer Bildoptimierung, intelligenter Fokusverfolgung, panoramischer optischer Navigation und vollautomatisierten Erfassungsfunktionen für große Flächen
Schnelle Umstellung zwischen Großfeld- und hochauflösender Bildgebung	Innovatives elektronoptisches Design, unabhängige Bedienung von Bildgebung mit großem Feld und hochauflösender Bildgebung, schnelle Schaltung, präzise Partikelidentifizierung und Positionierung,schnelle hochauflösende Bilder
Bildverarbeitungssoftware KI-Server	Ultra-großflächige Bildgebung, 100um@25nm, AI Server hocheffiziente Erkennung und Messung
Fähigkeit zur quantitativen Detektion von Partikeln mit hoher Durchsatzleistung	Brandneues System zur Beförderung von Proben und automatisiertes System zur Bewirtschaftung von Proben zur Sicherstellung der quantitativen Detektion

▶Optisches System zur vollautomatischen Mikropartikeldetektion

Traditionelle Transmissions-Elektronenmikroskope haben ein kleines Sichtfeld, das den Nachweis- und Identifizierungsbedarf einer großen Anzahl von Nanopartikeln nicht erfüllen kann.7230 basiert auf Konzepten für Halbleiter-Industriegeräte zur Elektronenstrahldetektion, die hochdurchlaufende Nanopartikelerkennungskapazitäten ermöglichen.

A63.7230 ermöglicht eine hochgeschwindige Bildgebung durch innovative Designs wie schnelle Bildgebungstechnologie, vibrationsfreie Probenstufe, hochgeschwindiges Elektronenoptisches System und KI-Technologie.mit Bildschirmgeschwindigkeiten, die das Dutzendefache der traditionellen Elektronenmikroskope erreichen.

▶Voll automatisiertes Design

Eine Reihe von Aktionen wie Einschaltprüfung, Navigationspositionierung, Ein-Klick-Zentrierung, Fokusanpassung und Verschiebungskorrektur werden automatisiert.Das Echtzeit-Fokus-Tracking-System besteht aus Hardware und SoftwareDie Verwendung einer präzisen elektronischen Ablenkung zur genauen Positionierung von Probenaufnahmen führt zu einer hohen Wiederholgenauigkeit der Ergebnisse.Es eliminiert nicht nur die Notwendigkeit einer umfangreichen Anstrengung zur Anpassung und Lokalisierung von Probenpositionen, sondern nutzt auch KI-Intelligenz für die automatische Erkennung, was letztendlich einen ununterbrochenen Betrieb ohne Aufsicht ermöglicht.

▶Anpassbare Softwarefunktionen für verschiedene Clients

Nutzung moderner künstlicher Intelligenz, KI-Algorithmen usw., um Experimentalpersonal bei der Analyse zu unterstützen,von der Vorbereitung der Probe bis zur automatischen Vollschnittsaufnahme und dem Nähen mit dem ElektronenmikroskopDie KI-intelligente Analyse kann zur automatischen Erkennung und Klassifizierung von Partikeln eingesetzt werden.Bereitstellung einer vollständigen Lösung für die Nutzer.