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OPTO-EDU A63.7220 Field Emission Transmission Electron Microscope, 200KV, 1500000x

OPTO-EDU A63.7220 Feldemissionsübertragungselektronenmikroskop, 200KV, 1500000x

  • Beschleunigungsspannung
    200 kV, Fabrik ausgerichtet auf 80 kV und 200 kV
  • Elektronenquelle
    Schottky-Feldemitter mit hoher Helligkeit
  • Sondenstrom
    ≥ 1,5 nA/1 nm Sonde
  • Auflösung der TEM-Linie
    0.23 nm
  • FEG-Geschütz Vakuum
    < 1x10-6Pa,
  • Goniometer
    Voll exzentrisches Goniometer mit 5-Achsen-Motorisierung
  • Herkunftsort
    China
  • Markenname
    CNOEC, OPTO-EDU
  • Zertifizierung
    CE, Rohs
  • Modellnummer
    A63.7220
  • Dokument
  • Min Bestellmenge
    1 Prozent
  • Preis
    FOB $1~1000, Depend on Order Quantity
  • Verpackung Informationen
    Karton-Verpackung, für den Export Transport
  • Lieferzeit
    5 bis 20 Tage
  • Zahlungsbedingungen
    T/T, Westverband, Paypal
  • Versorgungsmaterial-Fähigkeit
    5000 PC Monat

OPTO-EDU A63.7220 Feldemissionsübertragungselektronenmikroskop, 200KV, 1500000x

  • Vergrößerung 1x~1500000x, TEM-Linienauflösung 0,23 nm, TEM-Informationsgrenze 0,2 nm
  • Beschleunigungsspannung 80 ~ 200 kV, exzentrisches Goniometer 5-Achsen Motorisiert, Compu-Stufe Doppel-Neigung Halter
  • Ölfreie Vakuumpumpe, Pistolvakuum < 1x10-6Pa, Säulenvakuum < 5x10-5Pa
  • Bottlm Montierte CMOS 20M, 5120x3840, einschließlich Computer, Software, 1 Jahr Garantie
  • Sonde-Strom ≥1,5nA/1nm, Strahlstrom ≥50nA bei 200kV verfügbar, STEM, Kryo-Proben, Tomographie, EDS
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A63.7220ist ein Feldemissions-Transmissionselektronmikroskop (TEM), 200KV, 1500000x, unabhängig entwickelt und für Materialwissenschaften, Halbleiter und andere Bereiche entwickelt.Dieses Elektronenmikroskop ist einfach zu bedienen und sehr stabil, und kann Lösungen wie In-situ, hochauflösende und Mikrokristall-Elektronendiffraktion liefern.

 
Ein freundliches Design Verfeinertes Erscheinungsbild und Benutzeroberflächendesign, brandneue Vision, erfüllen die Betriebsbedürfnisse von Benutzern verschiedener Ebenen; bieten Betriebsvideo-Tutorials an.
Neues Linsenfassdesign Es hat ein vierstufiges Kondensatorsystem, das unabhängig voneinander gesteuert werden kann, wodurch der Konvergenzwinkel und die Intensität des Elektronenstrahls für verschiedene Bildgebungsstudien gesteuert werden können.Es ist auch mit einem großen Stangenschuh ausgestattet, die unter unterschiedlichen Bedingungen eine In-situ-Charakterisierung durchführen kann.
Bildqualität Das Elektronenmikroskop ist mit einer hochempfindlichen CMOS-Kamera ausgestattet, die leicht qualitativ hochwertige Bilder erzeugen kann.
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Elektronenmikroskop mit Feldemissionsübertragung (TEM), 200KV, 1500000x
Beschleunigungsspannung 200 kV, Fabrik ausgerichtet auf 80 kV und 200 kV
Elektronenquelle Schottky-Feldemitter mit hoher Helligkeit
Sonde-Strom ≥ 1,5nA/1nm Sonde
Strahlstrom Maximal ≥ 50nA bei 200 kV
Auflösung der TEM-Linie 0.23 nm
TEM-Informationsgrenze 0.2 nm
Vergrößerung 20x bis 1500000x.
FEG-Geschütz Vakuum < 1x10-6Pa,
TEM-Säulenvakuum < 5x10-5Pa
Goniometer Voll exzentrisches Goniometer mit 5-Achsen-Motorisierung
Kamera 20M Geschwindigkeitsverbesserte CMOS-Kamera EMSIS XAROSA 5120x3840
Bühne Kompu-Stufe-Doppel-Neigungshalter
X ± 1 mm, Y ± 1 mm, Z ± 0,35 mm, α ± 25°, β ± 25°
Erweiterbar STEM, Kryo-Proben, Tomographie und EDS-Analyse
Gewährleistung Garantie ein (1) Jahr.
Zusätzliches Zubehör
Einrichtung Servicepaket für die Anlage vor Ort und Betriebsschulung Optional
STEM PNDetector Ringartiger STEM-Detektor, Advanced Module ADV-STEM (einschließlich STEM-HAADF und BF)
EDS Bruker XFlash 7T30S
Tomographiehalter 1..Probengröße: φ3mm.
2.Alpha-Neigungsbereich: ±70°.
3Auflösung: ≤ 0,34 nm (in jeder Richtung).
4.Driftrate: < 1,5 nm/min.
5Sichtfeld: ≥ 1,6 mm @ 70° Neigung.
Haltemittel für die Kryoproben Haltemittel für die Kühlprobe:
1- Probengröße: φ3 mm.
2.Alpha Neigungsbereich: ±70°.
3Auflösung: ≤ 0,34 nm (in jede Richtung).
4. Drift Rate: < 1,5 nm/min.
5Sichtfeld: ≥ 1,6 mm @ 70° Neigung.
Molekulare Pumpstation
1Das ultimative Vakuum ist besser als 10e-7 mbar.
2.Multifunktionales: Proben- und Stangeinlagerung, In-situ-Stableckentestung.
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