| Elektronenmikroskop mit Feldemissionsübertragung (TEM), 200KV, 1500000x |
| Beschleunigungsspannung |
200 kV, Fabrik ausgerichtet auf 80 kV und 200 kV |
| Elektronenquelle |
Schottky-Feldemitter mit hoher Helligkeit |
| Sonde-Strom |
≥ 1,5nA/1nm Sonde |
| Strahlstrom |
Maximal ≥ 50nA bei 200 kV |
| Auflösung der TEM-Linie |
0.23 nm |
| TEM-Informationsgrenze |
0.2 nm |
| Vergrößerung |
20x bis 1500000x. |
| FEG-Geschütz Vakuum |
< 1x10-6Pa, |
| TEM-Säulenvakuum |
< 5x10-5Pa |
| Goniometer |
Voll exzentrisches Goniometer mit 5-Achsen-Motorisierung |
| Kamera |
20M Geschwindigkeitsverbesserte CMOS-Kamera EMSIS XAROSA 5120x3840 |
| Bühne |
Kompu-Stufe-Doppel-Neigungshalter |
| X ± 1 mm, Y ± 1 mm, Z ± 0,35 mm, α ± 25°, β ± 25° |
| Erweiterbar |
STEM, Kryo-Proben, Tomographie und EDS-Analyse |
| Gewährleistung |
Garantie ein (1) Jahr. |
| Zusätzliches Zubehör |
| Einrichtung |
Servicepaket für die Anlage vor Ort und Betriebsschulung Optional |
| STEM |
PNDetector Ringartiger STEM-Detektor, Advanced Module ADV-STEM (einschließlich STEM-HAADF und BF) |
| EDS |
Bruker XFlash 7T30S |
| Tomographiehalter |
1..Probengröße: φ3mm. |
| 2.Alpha-Neigungsbereich: ±70°. |
| 3Auflösung: ≤ 0,34 nm (in jeder Richtung). |
| 4.Driftrate: < 1,5 nm/min. |
| 5Sichtfeld: ≥ 1,6 mm @ 70° Neigung. |
| Haltemittel für die Kryoproben |
Haltemittel für die Kühlprobe: |
| 1- Probengröße: φ3 mm. |
| 2.Alpha Neigungsbereich: ±70°. |
| 3Auflösung: ≤ 0,34 nm (in jede Richtung). |
| 4. Drift Rate: < 1,5 nm/min. |
| 5Sichtfeld: ≥ 1,6 mm @ 70° Neigung. |
| Molekulare Pumpstation |
| 1Das ultimative Vakuum ist besser als 10e-7 mbar. |
| 2.Multifunktionales: Proben- und Stangeinlagerung, In-situ-Stableckentestung. |