A63.7088 | |
Entschließung | 1.0nm@30KV(SE), 1,5nm@1KV(SE) |
Vergrößerung | 1 x ~ 2000000 x |
Elektronenpistole | Schottky-Feld-Emissionspistole |
Spannung | Beschleunigungsspannung 0,02 ~ 30KV |
Elektronenstrahl | 1pA bis 20nA |
Vakuumsystem | 1 Sputterionenpumpe, 1 Turbomolekulare Pumpe, 1 mechanische Pumpe |
Detektor | SE in Linsen, SE im Probenraum, BSE, CCD |
Port erweitern | Erweiterung der Probenräume für BSE, EDS, EBSD, CL usw. |
Probeentwicklung | 5 AchsenAutoIn diesem Fall ist die Ausrüstung mit einem Schnitt zwischen den beiden Ebenen zu verwenden. |
Maximaler Exemplar | Probenraum Durchmesser 330 mm, Höhe 260 mm |
Bildsystem | Real Still Image Max Auflösung 256x256~16k~16k Pixel |
Computer und Software | PC-Arbeitsplatz Windows-System, mit professioneller Bildanalyse-Software zur vollständigen Kontrolle des gesamten SEM-Mikroskopbetriebs, Maus, Tastatur |
Kontrollplatte | Eingeschlossen |
Abmessungen und Gewicht | Hauptkörper 1900x1100x1800mm, Gesamtgewicht 800Kg |
Zusätzliches Zubehör | |
A50. Das ist nicht wahr.7091 | Ionenstrahlreiniger |
A50. Das ist nicht wahr.7092 | Feld-Emissionspistolenlampe |
▶Überlegene Elektronoptik-Konstruktion ●Elektronenpistole mit thermischer Feldemission, stabiler Strahl, hohe Auflösung ●Die Vollrohrbeschleunigungstechnologie sorgt für eine hohe Bildleistung des Elektronenstrahls bei niedriger Beschleunigungsspannung ●Verbundlinsen aus elektrostatischer Linse und magnetischer Linse, die Objektivlinse hat keine magnetische Leckage und die Abbildung magnetischer Proben ist sorgenfrei |
▶Umfassendes System zur Sammlung von Signalen ● Kann gleichzeitig Signale von zwei Arten von Sekundärelektronen sammeln, zurückverstreuten Elektronen und übertragenen Elektronen. ● Der Kontrast der Probenmorphologie und -zusammensetzung wird gleichzeitig angezeigt, um die mikroskopische Morphologie und Zusammensetzung der Probe so weit wie möglich zu zeigen. |