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Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd. 0086-13911110627 sale@optoedu.com
Opto Edu A62.4511 Scanning Microscope Contact Tapping Mode Plane Atomic Force

Opto Rasterelektronenmikroskop-Kontakt-klopfende Modus-flache Atomkraft Edu A62.4511

  • Markieren

    Opto edu Rasterelektronenmikroskop

    ,

    niedriges Marmorierungrasterelektronenmikroskop

    ,

    Opto edu Atomkraftmikroskop

  • Arbeitsmodus
    „Kontakt-Modus-klopfender Modus 【optionaler】 Reibungs-Modus-Phasen-Modus-magnetischer Modus-elektros
  • Gegenwärtige Spektrum-Kurve
    „RMS-Z Kurve F-Z Force Curve“
  • X-Yscan-Modus
    Probe gefahrenes Scannen, Endlosschleifen-piezoelektrisches Schiebescannen-Stadium
  • X-Yarbeitsbereich
    Endlosschleife 100×100um
  • X-Yscan-Entschließung
    Endlosschleife 0.5nm
  • Z-Arbeitsbereich
    5um
  • Z-Scan-Entschließung
    0.05Nm
  • Scangeschwindigkeit
    0.6Hz~30Hz
  • Scan-Winkel
    0~360°
  • Beispielgewicht
    ≤15Kg
  • Stadiums-Größe
    „Dia.100mm-【optionales】 Dia.200mm Dia.300mm“
  • Stadiums-x-ybewegen
    „100x100mm, Entschließung 1um 【optionales】 200x200mm 300x300mm“
  • Bewegen des Stadiums-Z
    „15mm, Entschließung 10nm 【optionales】 20mm 25mm“
  • Stoßdämpfender Entwurf
    „Frühlings-Suspendierung 【Optionales】 aktiver Stoßdämpfer“
  • Optisches System
    „Objektives 【5x 5.0M Digital Camera optionales】 objektives 10x objektive 20x“
  • Herkunftsort
    China
  • Markenname
    OPTO-EDU
  • Zertifizierung
    CE, Rohs
  • Modellnummer
    A62.4511
  • Min Bestellmenge
    1pc
  • Preis
    FOB $1~1000, Depend on Order Quantity
  • Verpackung Informationen
    Karton-Verpackung, für den Export Transport
  • Lieferzeit
    5~20 Tage
  • Zahlungsbedingungen
    L/C, T/T, Western Union
  • Versorgungsmaterial-Fähigkeit
    5000 PCS-/monat

Opto Rasterelektronenmikroskop-Kontakt-klopfende Modus-flache Atomkraft Edu A62.4511

Flaches scannendes Atomkraft-Mikroskop

  • Bockscannenkopfentwurf, Marmorbasis, Vakuumaufnahmestadium, Mustergröße und Gewicht sind- im Allgemeinen unbegrenzt
  • A62.4510 + dreiachsiger unabhängiger Druckschieberegelscanner, der mit hoher Präzision in einer breiten Palette scannen kann
  • Fütterungsmethode der intelligenten Nadel mit automatischer Entdeckung der Motor-kontrollierten piezoelektrischen Keramik, zum von Sonden und von Proben zu schützen
  • Automatische optische Positionierung, kein Bedarf, um Fokus zu justieren, Realzeitbeobachtung und Positionierung des Sondenbeispielüberprüfungsbereichs
  • Ausgerüstet mit geschlossenem Metallschild, pneumatische stoßdämpfende Tabelle, starke Entstörungsfähigkeit
  • Opto Rasterelektronenmikroskop-Kontakt-klopfende Modus-flache Atomkraft Edu A62.4511 0
  • Opto Rasterelektronenmikroskop-Kontakt-klopfende Modus-flache Atomkraft Edu A62.4511 1      

          ◆Das erste Handelsatomkraftmikroskop in China, zum des kombinierten beweglichen Scannens der Sonde und der Probe zu verwirklichen;

          ◆Das erste in China, zum einer dreiachsigen unabhängigen piezoelektrischen Schiebescannenregeltabelle zu benutzen, um umfangreiches Hochpräzisionsscannen zu erzielen;

          ◆Dreiachsiges unabhängiges Scannen, XYZ beeinflußt sich nicht, sehr passend für dreidimensionale Material- und Topographieentdeckung;

          ◆Elektrische Steuerung des Beispielder beweglichen Tabelle und -Hubtischs, die mit Mehrpunktposition programmiert werden kann, schnelle automatische Entdeckung zu verwirklichen;

          ◆Bockscannenkopfentwurf, Marmorbasis, Vakuumaufnahme und magnetisches Aufnahmestadium;

          ◆Der Motor Steuerung die Fütterungsmethode der intelligenten Nadel der piezoelektrischen keramischen automatischen Entdeckung, um die Sonde und die Probe zu schützen;

          ◆Zusätzliche optische Mikroskoppositionierung der hohen linearen Wiedergabe, Realzeitbeobachtung und Positionierung der Sonde und des Beispielüberprüfungsbereichs;

          ◆Das piezoelektrische Überprüfungsregelstadium erfordert nicht nichtlineare Korrektur, und die Nanometerkennzeichnungs- und -maßgenauigkeit ist besser als 99,5%.

Opto Rasterelektronenmikroskop-Kontakt-klopfende Modus-flache Atomkraft Edu A62.4511 2

  • Opto Rasterelektronenmikroskop-Kontakt-klopfende Modus-flache Atomkraft Edu A62.4511 3
  •   A62.4510 A62.4511
    Arbeits-Modus Kontakt-Modus
    Klopfender Modus

    [Optional]
    Reibungs-Modus
    Phasen-Modus
    Magnetischer Modus
    Elektrostatischer Modus
    Kontakt-Modus
    Klopfender Modus

    [Optional]
    Reibungs-Modus
    Phasen-Modus
    Magnetischer Modus
    Elektrostatischer Modus
    Gegenwärtige Spektrum-Kurve RMS-Z Kurve
    F-Z Force Curve
    RMS-Z Kurve
    F-Z Force Curve
    X-Yscan-Modus Sonde gefahrenes Scannen,
    Piezo Rohr-Scanner
    Probe gefahrenes Scannen, Endlosschleifen-piezoelektrisches Schiebescannen-Stadium
    X-Yarbeitsbereich 70×70um Endlosschleife 100×100um
    X-Yscan-Entschließung 0.2nm Endlosschleife 0.5nm
    Z-Scan-Modus   Sonde gefahrenes Scannen
    Z-Arbeitsbereich 5um 5um
    Z-Scan-Entschließung 0.05nm 0.05nm
    Scangeschwindigkeit 0.6Hz~30Hz 0.6Hz~30Hz
    Scan-Winkel 0~360° 0~360°
    Beispielgewicht ≤15Kg ≤0.5Kg
    Stadiums-Größe Dia.100mm

    [Optional]
    Dia.200mm
    Dia.300mm
    Dia.100mm

    [Optional]
    Dia.200mm
    Dia.300mm
    Stadiums-x-ybewegen 100x100mm, Entschließung 1um

    [Optional]
    200x200mm
    300x300mm
    100x100mm, Entschließung 1um

    [Optional]
    200x200mm
    300x300mm
    Bewegen des Stadiums-Z 15mm, Entschließung 10nm
    [Optional]
    20mm
    25mm
    15mm, Entschließung 10nm
    [Optional]
    20mm
    25mm
    Stoßdämpfender Entwurf Frühlings-Suspendierung

    [Optional]
    Aktiver Stoßdämpfer
    Frühlings-Suspendierung

    [Optional]
    Aktiver Stoßdämpfer
    Optisches System Objektives 5x
    5.0M Digital Camera

    [Optional]
    Objektives 10x
    Objektives 20x
    Objektives 5x
    5.0M Digital Camera

    [Optional]
    Objektives 10x
    Objektives 20x
    Ertrag USB2.0/3.0 USB2.0/3.0
    Software Gewinn XP/7/8/10 Gewinn XP/7/8/10
    Hauptteil Bock-Scan-Kopf, Marmorbasis Bock-Scan-Kopf, Marmorbasis
  • Mikroskop Optisches Mikroskop Elektronenmikroskop Überprüfungssonden-Mikroskop
    Max Resolution (um) 0,18 0,00011 0,00008
    Anmerkung Ölkapselungs-1500x Darstellungsdiamant-Kohlenstoffatome Darstellungshöherwertig Graphitkohlenstoffatome
    Opto Rasterelektronenmikroskop-Kontakt-klopfende Modus-flache Atomkraft Edu A62.4511 4   Opto Rasterelektronenmikroskop-Kontakt-klopfende Modus-flache Atomkraft Edu A62.4511 5
  • Sonde-Proben-Interaktion Maß-Signal Informationen
    Kraft Elektrostatische Kraft Form
    Tunnel-Strom Gegenwärtig Form, Leitfähigkeit
    Magnetische Kraft Phase Magnetische Struktur
    Elektrostatische Kraft Phase Ladungsverteilung
  •   Entschließung Arbeitsbedingung Arbeits-Temperation Zu probierendes Damge Inspektions-Tiefe
    SPM Atom Level 0.1nm Normal, flüssig, Vakuum Raum oder niedriges Temperation Kein 1~2 Atom Level
    TEM Punkt 0.3~0.5nm
    Gitter 0.1~0.2nm
    Hochvakuum Raum Temperation Klein Normalerweise <100nm>
    SEM 6-10nm Hochvakuum Raum Temperation Klein 10mm @10x
    1um @10000x
    FIM Atom Level 0.1nm Superhochvakuum 30~80K Damge Atom Thickness
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