Optisches + Atomkraft-Mikroskop, einteilig
◆Integrierter Entwurf des optischen metallografischen Mikroskops und des Atomkraftmikroskops, starke Funktionen
◆Es hat optisches Mikroskop und Atomkraftmikroskopdarstellungsfunktionen, die gleichzeitig arbeiten können, ohne sich zu beeinflussen
◆Gleichzeitig hat es die Funktionen des optischen 2D Maßes und des Atommaßes des kraftmikroskops 3D
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◆Der Laser-Entdeckungskopf und das Beispielscannenstadium werden integriert, ist die Struktur sehr stabil, und das Entstörungs ist stark
◆Präzisionssondenpositioniervorrichtung, Laser-Stellenausrichtungsanpassung ist sehr einfach
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◆Die Einzelachsen-Antriebsprobe nähert automatisch sich der Sonde vertikal, damit das Nadelspitzen zum Beispielscan senkrecht ist
◆Die Fütterungsmethode der intelligenten Nadel der Motor-kontrollierten unter Druck gesetzten piezoelektrischen keramischen automatischen Entdeckung schützt die Sonde und die Probe
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◆Optische Navigationsanlage der Ultrahochlinearen wiedergabe, zum der genauen Positionierung des Sonden- und Beispielscannenbereichs zu erzielen
◆Integrierter Korrekturbenutzerherausgeber des Scanners nichtlinearer, Nanometer
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Spezifikation |
A62.4500 |
A622.4501 |
A62.4503 |
A62.4505 |
Arbeits-Modus |
Klopfender Modus
[Optional] Kontakt-Modus Reibungs-Modus Phasen-Modus Magnetischer Modus Elektrostatischer Modus |
Kontakt-Modus Klopfender Modus
[Optional] Reibungs-Modus Phasen-Modus Magnetischer Modus Elektrostatischer Modus |
Kontakt-Modus Klopfender Modus
[Optional] Reibungs-Modus Phasen-Modus Magnetischer Modus Elektrostatischer Modus |
Kontakt-Modus Klopfender Modus
[Optional] Reibungs-Modus Phasen-Modus Magnetischer Modus Elektrostatischer Modus |
Gegenwärtige Spektrum-Kurve |
RMS-Z Kurve
[Optional] F-Z Force Curve |
RMS-Z Kurve F-Z Force Curve |
RMS-Z Kurve F-Z Force Curve |
RMS-Z Kurve F-Z Force Curve |
X-Yarbeitsbereich |
20×20um |
20×20um |
50×50um |
50×50um |
X-Yscan-Entschließung |
0.2nm |
0.2nm |
0.2nm |
0.2nm |
Z-Arbeitsbereich |
2.5um |
2.5um |
5um |
5um |
Y-Scan-Entschließung |
0.05nm |
0.05nm |
0.05nm |
0.05nm |
Scangeschwindigkeit |
0.6Hz~30Hz |
0.6Hz~30Hz |
0.6Hz~30Hz |
0.6Hz~30Hz |
Scan-Winkel |
0~360° |
0~360° |
0~360° |
0~360° |
Mustergröße |
Φ≤90mm H≤20mm |
Φ≤90mm H≤20mm |
Φ≤90mm H≤20mm |
Φ≤90mm H≤20mm |
X-Ystadiums-Bewegen |
15×15mm |
15×15mm |
25×25um |
25×25um |
Stoßdämpfender Entwurf |
Frühlings-Suspendierung |
Frühlings-Suspendierung Metall, das Kasten abschirmt |
Frühlings-Suspendierung Metall, das Kasten abschirmt |
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Optisches Syestem |
Ziel 4x Entschließung 2.5um |
Ziel 4x Entschließung 2.5um |
Ziel 10x Entschließung 1um |
Okular 10x Unendlichkeits-Plan LWD APO 5x10x20x50x 5.0M Digital Camera 10" LCD-Monitor, mit dem Messen Beleuchtung LED Kohler Grobe u. feine koaxialfokussierung |
Ertrag |
USB2.0/3.0 |
USB2.0/3.0 |
USB2.0/3.0 |
USB2.0/3.0 |
Software |
Gewinn XP/7/8/10 |
Gewinn XP/7/8/10 |
Gewinn XP/7/8/10 |
Gewinn XP/7/8/10 |
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Mikroskop |
Optisches Mikroskop |
Elektronenmikroskop |
Überprüfungssonden-Mikroskop |
Max Resolution (um) |
0,18 |
0,00011 |
0,00008 |
Anmerkung |
Ölkapselungs-1500x |
Darstellungsdiamant-Kohlenstoffatome |
Darstellungshöherwertig Graphitkohlenstoffatome |
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Sonde-Proben-Interaktion |
Maß-Signal |
Informationen |
Kraft |
Elektrostatische Kraft |
Form |
Tunnel-Strom |
Gegenwärtig |
Form, Leitfähigkeit |
Magnetische Kraft |
Phase |
Magnetische Struktur |
Elektrostatische Kraft |
Phase |
Ladungsverteilung |
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Entschließung |
Arbeitsbedingung |
Arbeits-Temperation |
Zu probierendes Damge |
Inspektions-Tiefe |
SPM |
Atom Level 0.1nm |
Normal, flüssig, Vakuum |
Raum oder niedriges Temperation |
Kein |
1~2 Atom Level |
TEM |
Punkt 0.3~0.5nm Gitter 0.1~0.2nm |
Hochvakuum |
Raum Temperation |
Klein |
Normalerweise <100nm> |
SEM |
6-10nm |
Hochvakuum |
Raum Temperation |
Klein |
10mm @10x 1um @10000x |
FIM |
Atom Level 0.1nm |
Superhochvakuum |
30~80K |
Damge |
Atom Thickness |
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