Opto Edu A61.4510 Überprüfungstunnelbau-Elektronenmikroskop Constant Height Current Mode
-
Hervorheben
Opto edu Scannentunnelbau-Elektronenmikroskop
,konstantes Höhenscannentunnelbau-Elektronenmikroskop
,emittergekoppeltes Opto edu Mikroskop
-
Arbeitsmodus„Constant Height Mode Constant Current-Modus“
-
Gegenwärtige Spektrum-Kurve„I-V Curve Current-Distance Curve“
-
X-Yarbeitsbereich5×5um
-
X-Yscan-Entschließung0.05Nm
-
Z-Arbeitsbereich1um
-
Y-Scan-Entschließung0.01nm
-
Scangeschwindigkeit0.1Hz~62Hz
-
Scan-Winkel0~360°
-
Mustergröße„Φ≤68mm H≤20mm“
-
X-Ystadiums-Bewegen15×15mm
-
Stoßdämpfender EntwurfFrühlingssuspendierung
-
Optisches Syestemununterbrochenes lautes Summen 1~500x
-
ErtragUSB2.0/3.0
-
SoftwareGewinn XP/7/8/10
-
HerkunftsortChina
-
MarkennameOPTO-EDU
-
ZertifizierungCE, Rohs
-
ModellnummerA61.4510
-
Dokument
-
Min Bestellmenge1pc
-
PreisFOB $1~1000, Depend on Order Quantity
-
Verpackung InformationenKarton-Verpackung, für den Export Transport
-
Lieferzeit5~20 Tage
-
ZahlungsbedingungenL/C, Western Union, T/T, MoneyGram
-
Versorgungsmaterial-Fähigkeit5000 PCS-/monat
Opto Edu A61.4510 Überprüfungstunnelbau-Elektronenmikroskop Constant Height Current Mode
Überprüfungstunnelbau-Mikroskop
◆Miniaturisierter und abnehmbarer Entwurf, sehr einfach zu tragen und Klassenzimmerunterrichten
◆Der Entdeckungskopf und das Beispielscannenstadium werden integriert, ist die Struktur sehr stabil, und das Entstörungs ist stark
◆Die Einzelachsen-Antriebsprobe nähert automatisch sich der Sonde vertikal, damit das Nadelspitzen zum Beispielscan senkrecht ist
◆Die Fütterungsmethode der intelligenten Nadel der Motor-kontrollierten unter Druck gesetzten piezoelektrischen keramischen automatischen Entdeckung schützt die Sonde und die Probe
◆Seiten-CCD-Beobachtungssystem, Realzeitbeobachtung des Sondennadel-Einfügungszustandes und Positionierung des Sondenbeispielüberprüfungsbereichs
◆Stoßsicherer Methoden-, einfacher und praktischer, guterstoßsicherer Effekt der Frühlingssuspendierung
◆Integrierter Korrekturbenutzerherausgeber des Scanners nichtlinearer, Nanometerkennzeichnung und Maßgenauigkeit besser als 98%
| A61.4510 | |
| Arbeits-Modus | Constant Height Mode Constant Current Mode |
| Gegenwärtige Spektrum-Kurve | I-V Curve Gegenwärtig-Abstands-Kurve |
| X-Yarbeitsbereich | 5×5um |
| X-Yscan-Entschließung | 0.05nm |
| Z-Arbeitsbereich | 1um |
| Y-Scan-Entschließung | 0.01nm |
| Scangeschwindigkeit | 0.1Hz~62Hz |
| Scan-Winkel | 0~360° |
| Mustergröße | Φ≤68mm H≤20mm |
| X-Ystadiums-Bewegen | 15×15mm |
| Stoßdämpfender Entwurf | Frühlings-Suspendierung |
| Optisches Syestem | ununterbrochenes lautes Summen 1~500x |
| Ertrag | USB2.0/3.0 |
| Software | Gewinn XP/7/8/10 |
| Mikroskop | Optisches Mikroskop | Elektronenmikroskop | Überprüfungssonden-Mikroskop |
| Max Resolution (um) | 0,18 | 0,00011 | 0,00008 |
| Anmerkung | Ölkapselungs-1500x | Darstellungsdiamant-Kohlenstoffatome | Darstellungshöherwertig Graphitkohlenstoffatome |
|
|
|
| Sonde-Proben-Interaktion | Maß-Signal | Informationen |
| Kraft | Elektrostatische Kraft | Form |
| Tunnel-Strom | Gegenwärtig | Form, Leitfähigkeit |
| Magnetische Kraft | Phase | Magnetische Struktur |
| Elektrostatische Kraft | Phase | Ladungsverteilung |
| Entschließung | Arbeitsbedingung | Arbeits-Temperation | Zu probierendes Damge | Inspektions-Tiefe | |
| SPM | Atom Level 0.1nm | Normal, flüssig, Vakuum | Raum oder niedriges Temperation | Kein | 1~2 Atom Level |
| TEM | Punkt 0.3~0.5nm Gitter 0.1~0.2nm |
Hochvakuum | Raum Temperation | Klein | Normalerweise <100nm> |
| SEM | 6-10nm | Hochvakuum | Raum Temperation | Klein | 10mm @10x 1um @10000x |
| FIM | Atom Level 0.1nm | Superhochvakuum | 30~80K | Damge | Atom Thickness |
Unsere Produkte werden auf der ganzen Welt verkauft. Sie können sich auf den gesamten Prozess unserer Produkte verlassen.