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Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd. 0086-13911110627 sale@optoedu.com
Opto Edu A61.4510 Scanning Tunneling Electron Microscope Constant Height Current Mode

Opto Edu A61.4510 Überprüfungstunnelbau-Elektronenmikroskop Constant Height Current Mode

  • Markieren

    Opto edu Scannentunnelbau-Elektronenmikroskop

    ,

    konstantes Höhenscannentunnelbau-Elektronenmikroskop

    ,

    emittergekoppeltes Opto edu Mikroskop

  • Arbeitsmodus
    „Constant Height Mode Constant Current-Modus“
  • Gegenwärtige Spektrum-Kurve
    „I-V Curve Current-Distance Curve“
  • X-Yarbeitsbereich
    5×5um
  • X-Yscan-Entschließung
    0.05Nm
  • Z-Arbeitsbereich
    1um
  • Y-Scan-Entschließung
    0.01nm
  • Scangeschwindigkeit
    0.1Hz~62Hz
  • Scan-Winkel
    0~360°
  • Mustergröße
    „Φ≤68mm H≤20mm“
  • X-Ystadiums-Bewegen
    15×15mm
  • Stoßdämpfender Entwurf
    Frühlingssuspendierung
  • Optisches Syestem
    ununterbrochenes lautes Summen 1~500x
  • Ertrag
    USB2.0/3.0
  • Software
    Gewinn XP/7/8/10
  • Herkunftsort
    China
  • Markenname
    OPTO-EDU
  • Zertifizierung
    CE, Rohs
  • Modellnummer
    A61.4510
  • Min Bestellmenge
    1pc
  • Preis
    FOB $1~1000, Depend on Order Quantity
  • Verpackung Informationen
    Karton-Verpackung, für den Export Transport
  • Lieferzeit
    5~20 Tage
  • Zahlungsbedingungen
    L/C, Western Union, T/T, MoneyGram
  • Versorgungsmaterial-Fähigkeit
    5000 PCS-/monat

Opto Edu A61.4510 Überprüfungstunnelbau-Elektronenmikroskop Constant Height Current Mode

Überprüfungstunnelbau-Mikroskop

  • Miniaturisierter und abnehmbarer Entwurf, sehr einfach zu tragen und Klassenzimmerunterrichten
  • Der Entdeckungskopf und das Beispielscannenstadium werden integriert, ist die Struktur sehr stabil, und das Entstörungs ist stark
  • Die Fütterungsmethode der intelligenten Nadel der Motor-kontrollierten unter Druck gesetzten piezoelektrischen keramischen automatischen Entdeckung schützt die Sonde und die Probe
  • Seiten-CCD-Beobachtungssystem, Realzeitbeobachtung von Sondennadel-Einfügungsstatus und Positionierung des Sondenbeispielüberprüfungsbereichs
  • Stoßsicherer Methoden-, einfacher und praktischer, guterstoßsicherer Effekt der Frühlingssuspendierung

Opto Edu A61.4510 Überprüfungstunnelbau-Elektronenmikroskop Constant Height Current Mode 0

Opto Edu A61.4510 Überprüfungstunnelbau-Elektronenmikroskop Constant Height Current Mode 1

Miniaturisierter und abnehmbarer Entwurf, sehr einfach zu tragen und Klassenzimmerunterrichten

 

Der Entdeckungskopf und das Beispielscannenstadium werden integriert, ist die Struktur sehr stabil, und das Entstörungs ist stark

 

Die Einzelachsen-Antriebsprobe nähert automatisch sich der Sonde vertikal, damit das Nadelspitzen zum Beispielscan senkrecht ist

 

Die Fütterungsmethode der intelligenten Nadel der Motor-kontrollierten unter Druck gesetzten piezoelektrischen keramischen automatischen Entdeckung schützt die Sonde und die Probe

 

Seiten-CCD-Beobachtungssystem, Realzeitbeobachtung des Sondennadel-Einfügungszustandes und Positionierung des Sondenbeispielüberprüfungsbereichs

 

Stoßsicherer Methoden-, einfacher und praktischer, guterstoßsicherer Effekt der Frühlingssuspendierung

 

Integrierter Korrekturbenutzerherausgeber des Scanners nichtlinearer, Nanometerkennzeichnung und Maßgenauigkeit besser als 98%

Opto Edu A61.4510 Überprüfungstunnelbau-Elektronenmikroskop Constant Height Current Mode 2

Opto Edu A61.4510 Überprüfungstunnelbau-Elektronenmikroskop Constant Height Current Mode 3

Opto Edu A61.4510 Überprüfungstunnelbau-Elektronenmikroskop Constant Height Current Mode 4

Opto Edu A61.4510 Überprüfungstunnelbau-Elektronenmikroskop Constant Height Current Mode 5

Opto Edu A61.4510 Überprüfungstunnelbau-Elektronenmikroskop Constant Height Current Mode 6

 

A61.4510
Arbeits-Modus Constant Height Mode
Constant Current Mode
Gegenwärtige Spektrum-Kurve I-V Curve
Gegenwärtig-Abstands-Kurve
X-Yarbeitsbereich 5×5um
X-Yscan-Entschließung 0.05nm
Z-Arbeitsbereich 1um
Y-Scan-Entschließung 0.01nm
Scangeschwindigkeit 0.1Hz~62Hz
Scan-Winkel 0~360°
Mustergröße Φ≤68mm
H≤20mm
X-Ystadiums-Bewegen 15×15mm
Stoßdämpfender Entwurf Frühlings-Suspendierung
Optisches Syestem ununterbrochenes lautes Summen 1~500x
Ertrag USB2.0/3.0
Software Gewinn XP/7/8/10
Mikroskop Optisches Mikroskop Elektronenmikroskop Überprüfungssonden-Mikroskop
Max Resolution (um) 0,18 0,00011 0,00008
Anmerkung Ölkapselungs-1500x Darstellungsdiamant-Kohlenstoffatome Darstellungshöherwertig Graphitkohlenstoffatome
Opto Edu A61.4510 Überprüfungstunnelbau-Elektronenmikroskop Constant Height Current Mode 7 Opto Edu A61.4510 Überprüfungstunnelbau-Elektronenmikroskop Constant Height Current Mode 8 Opto Edu A61.4510 Überprüfungstunnelbau-Elektronenmikroskop Constant Height Current Mode 9
Sonde-Proben-Interaktion Maß-Signal Informationen
Kraft Elektrostatische Kraft Form
Tunnel-Strom Gegenwärtig Form, Leitfähigkeit
Magnetische Kraft Phase Magnetische Struktur
Elektrostatische Kraft Phase Ladungsverteilung
  Entschließung Arbeitsbedingung Arbeits-Temperation Zu probierendes Damge Inspektions-Tiefe
SPM Atom Level 0.1nm Normal, flüssig, Vakuum Raum oder niedriges Temperation Kein 1~2 Atom Level
TEM Punkt 0.3~0.5nm
Gitter 0.1~0.2nm
Hochvakuum Raum Temperation Klein Normalerweise <100nm>
SEM 6-10nm Hochvakuum Raum Temperation Klein 10mm @10x
1um @10000x
FIM Atom Level 0.1nm Superhochvakuum 30~80K Damge Atom Thickness