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1x~600000x Emission Scanning Electron Microscope Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem

1x~600000x Emissionsscanning Elektronenmikroskop Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem

Produkte - Rasterelektronenmikroskop
  • Hervorheben

    8x Emissions-Rasterelektronenmikroskop

    ,

    Schottky-Gun-Emissions-Rasterelektronenmikroskop

  • Auflösung
    1,5 nm bei 15 kV (SE); 3 nm bei 20 kV (BSE)
  • Vergrößerung
    1x~600000x
  • Elektronenkanone
    Schottky-Emissionselektronenkanone
  • Beschleunigungsspannung
    0~30KV
  • Vakuumsystem
    Ionenpumpe, Turbomolekularpumpe, Rotationspumpe
  • Probenbühne
    Euzentrischer motorisierter Tisch mit fünf Achsen
  • Elektronenstrahlstrom
    10 pA ~ 0,3 μA
  • Maximaler Probendurchmesser
    175 mm
  • Herkunftsort
    China
  • Markenname
    CNOEC, OPTO-EDU
  • Zertifizierung
    CE,
  • Modellnummer
    A63.7080
  • Dokument
    Produktbroschüre PDF
  • Min Bestellmenge
    1 pc
  • Preis
    FOB $1~1000, Depend on Order Quantity
  • Verpackung Informationen
    Karton-Verpackung, für den Export Transport
  • Lieferzeit
    5 ~ 20 Tage
  • Zahlungsbedingungen
    T/T, West Union, Paypal
  • Versorgungsmaterial-Fähigkeit
    5000 PC Monat

1x~600000x Emissionsscanning Elektronenmikroskop Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem

  • 1x~600000x Emission Scanning Electron Microscope Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem
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1x~600000x Emissionsscanning Elektronenmikroskop Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem 12
 
A63.7080, A63.7081 Software-Hauptfunktion
Hochspannungsintegrierte Inbetriebnahme Automatisches Ein-/Ausschalten des Filaments Mögliche Schichtregulierung
Helligkeitsanpassung Elektrische bis zentrale Verstellung Automatische Helligkeit
Kontrasteinstellung Objektiveinstellung Autofokus
Vergrößerungseinstellung Objektive Entmagnetisierung Automatische Beseitigung von Astigmatismus
Ausgewählter Bereichsscanmodus Elektrische Rotationsverstellung Verwaltung von Mikroskopparametern
Punktscanmodus Einstellung der Elektronenstrahlverschiebung Echtzeitanzeige der Scanfeldgröße
Zeilenscanmodus Einstellung der Neigung des Elektronenstrahls Einstellung der Pistolenlinse
Oberflächenscannen Anpassung der Scangeschwindigkeit Mehrkanaleingang
Hochspannungsüberwachung Schwingenzentrierung Linealmessung


1x~600000x Emissionsscanning Elektronenmikroskop Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem 13
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SEM A63.7069
A63.7069-L
A63.7069-LV		 A63.7080
A63.7080-L		 A63.7081
Auflösung 3nm@30KV(SE)
6 nm bei 30 kV (BSE)		 1,5 nm bei 30 kV (SE)
3 nm bei 30 kV (BSE)		 1,0 nm bei 30 kV (SE)
3,0 nm bei 1 kV (SE)
2,5 nm bei 30 kV (BSE)
Vergrößerung 1x~450000x,Negative wahre Vergrößerung 1x ~ 600.000x, negative echte Vergrößerung 1x ~ 3000000x negative echte Vergrößerung
Elektronenkanone Vorzentrierte Wolfram-Filamentkartusche Schottky-Feldemissionskanone Schottky-Feldemissionskanone
Stromspannung Beschleunigungsspannung 0,2～30 kV, stufenlos einstellbar, Einstellschritt 100 V bei 0–10 kV, 1 kV bei 10–30 kV
Schnellansicht Eine Tastenfunktion für die Schnellansicht von Bildern N / A N / A
Linsensystem Dreistufige elektromagnetische konische Linse Mehrstufige elektromagnetische konische Linse
Öffnung 3 Molybdän-Objektivöffnungen, außerhalb des Vakuumsystems einstellbar, keine Notwendigkeit, das Objektiv zu zerlegen, um die Blende zu ändern
Vakuumsystem 1 Turbomolekularpumpe
1 mechanische Pumpe
Probenraumvakuum>2,6E-3Pa
Vakuum im Elektronenkanonenraum > 2,6E-3Pa
Vollautomatische Vakuumsteuerung
Vakuum-Verriegelungsfunktion

Optionales Modell: A63.7069-LV
1 Turbomolekularpumpe
2Mechanische Pumpen
Probenraumvakuum>2,6E-3Pa
Vakuum im Elektronenkanonenraum > 2,6E-3Pa
Vollautomatische Vakuumsteuerung
Vakuum-Verriegelungsfunktion
Niedriges VakuumBereich 10–270 Pa für schnelles Umschalten in 90 Sekunden bei BSE (LV)		 1 Ionenpumpenset
1 Turbomolekularpumpe
1 mechanische Pumpe
Probenraumvakuum>6E-4Pa
Vakuum im Elektronenkanonenraum > 2E-7 Pa
Vollautomatische Vakuumsteuerung
Vakuum-Verriegelungsfunktion		 1 Sputter-Ionenpumpe
1 Getter-Ionenverbindungspumpe
1 Turbomolekularpumpe
1 mechanische Pumpe
Probenraumvakuum>6E-4Pa
Vakuum im Elektronenkanonenraum > 2E-7 Pa
Vollautomatische Vakuumsteuerung
Vakuum-Verriegelungsfunktion
Detektor SE: Hochvakuum-Sekundärelektronendetektor (mit Detektorschutz) SE: Hochvakuum-Sekundärelektronendetektor (mit Detektorschutz) SE: Hochvakuum-Sekundärelektronendetektor (mit Detektorschutz)
BSE: Halbleiter-4-Segmentierung
Rückstreudetektor		 Optional Optional
Optionales Modell: A63.7069-LV
BSE(LV): Halbleiter-4-Segmentierung
Rückstreudetektor		 　 　
CCD:Infrarot-CCD-Kamera CCD:Infrarot-CCD-Kamera CCD:Infrarot-CCD-Kamera
Port erweitern 2 Erweiterungsanschlüsse am Probenraum für
EDS, BSD, WDS usw.		 4 Erweiterungsanschlüsse am Probenraum für
BSE, EDS, BSD, WDS usw.		 4 Erweiterungsanschlüsse am Probenraum für
BSE, EDS, BSD, WDS usw.
Probenbühne 5-Achsen-Bühne, 4Auto+1HandbuchKontrolle
Reisebereich:
X=70mm, Y=50mm, Z=45mm,
R=360°, T=-5°~+90° (manuell)
Berühren Sie die Alarm- und Stoppfunktion

Optionales Modell:
A63.7069-L5-Achsen-Auto-Großbühne		 5 AchsenAuto MitteBühne
Reisebereich:
X=80mm, Y=50mm, Z=30mm,
R=360°, T=-5°~+70°
Berühren Sie die Alarm- und Stoppfunktion

Optionales Modell:
A63.7080-L5 AchsenAuto GroßBühne		 5 AchsenAuto GroßBühne
Reisebereich:
X=150mm, Y=150mm, Z=60mm,
R=360°, T=-5°~+70°
Berühren Sie die Alarm- und Stoppfunktion
Max-Probe Durchmesser: 175 mm, Höhe: 35 mm Durchmesser 175 mm, Höhe 20 mm Durchmesser: 340 mm, Höhe: 50 mm
Bildsystem Echtes Standbild, maximale Auflösung 4096 x 4096 Pixel,
Bilddateiformat: BMP (Standard), GIF, JPG, PNG, TIF		 Echtes Standbild, maximale Auflösung 16384 x 16384 Pixel,
Bilddateiformat: TIF (Standard), BMP, GIF, JPG, PNG
Video: Digitales .AVI-Video automatisch aufzeichnen		 Echtes Standbild, maximale Auflösung 16384 x 16384 Pixel,
Bilddateiformat: TIF (Standard), BMP, GIF, JPG, PNG
Video: Digitales .AVI-Video automatisch aufzeichnen
Computer & Software PC-Workstation Win 10-System, mit professioneller Bildanalysesoftware zur vollständigen Steuerung des gesamten SEM-Mikroskopbetriebs, Computerspezifikation nicht weniger als Inter I5 3,2 GHz, 4G-Speicher, 24-Zoll-IPS-LCD-Monitor, 500G-Festplatte, Maus, Tastatur
Fotoanzeige Die Bildebene ist reichhaltig und sorgfältig und zeigt Echtzeitvergrößerung, Lineal, Spannung und Graukurve an
Dimension
& Gewicht		 Mikroskopkörper 800x800x1850mm
Arbeitstisch 1340x850x740mm
Gesamtgewicht 400 kg		 Mikroskopkörper 800x800x1480mm
Arbeitstisch 1340x850x740mm
Gesamtgewicht 450 kg		 Mikroskopkörper 1000x1000x1730mm
Arbeitstisch 1330x850x740mm
Gesamtgewicht 550 kg
Optionales Zubehör
Optionales Zubehör A50.7002EDS Energiedispersives Röntgenspektrometer
A50.7011Ionensputtern-Beschichter		 A50.7001BSE-Rückstreuelektronendetektor
A50.7002EDS Energiedispersives Röntgenspektrometer
A50.7011Ionensputtern-Beschichter
A50.7030Motorisiertes Bedienfeld		 A50.7001BSE-Rückstreuelektronendetektor
A50.7002EDS Energiedispersives Röntgenspektrometer
A50.7011Ionensputtern-Beschichter
A50.7030Motorisiertes Bedienfeld

1x~600000x Emissionsscanning Elektronenmikroskop Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem 15

1x~600000x Emissionsscanning Elektronenmikroskop Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem 16
A50.7001 BSE-Detektor Halbleiter-Rückstreudetektor mit vier Segmenten;
Erhältlich in den Inhaltsstoffen A+B, Morphologie-Info AB;
Verfügbare Probenbeobachtung ohne Goldzerstäubung;
Verfügbar in: Beobachten Sie Verunreinigungen und Verteilung direkt auf der Graustufenkarte.
A50.7002 EDS (Röntgendetektor) Fenster aus Siliziumnitrid (Si3N4) zur Optimierung der Röntgentransmission bei niedriger Energie für die Analyse leichter Elemente;
Hervorragende Auflösung und ihre fortschrittliche rauscharme Elektronik sorgen für eine hervorragende Durchsatzleistung;
Der geringe Platzbedarf bietet Flexibilität, um ideale Geometrie- und Aata-Sammelbedingungen sicherzustellen;
Die Detektoren enthalten einen 30 mm2 großen Chip.
A50.7003 EBSD (Electron Beam Backscattered Diffraction) Der Benutzer kann die Kristallorientierung, die Kristallphase und die Mikrotextur von Materialien sowie die damit verbundene Materialleistung usw. analysieren.
automatische Optimierung der EBSD-Kameraeinstellungen
Führen Sie während der Datenerfassung eine interaktive Echtzeitanalyse durch, um maximale Informationen zu erhalten
Alle Daten wurden mit einem Zeitstempel versehen, der jederzeit eingesehen werden kann
hohe Auflösung 1392 x 1040 x 12
Scan- und Indexgeschwindigkeit: 198 Punkte/Sek., mit Ni als Standard, unter der Bedingung von 2~5 nA kann eine Indexrate von ≥99 % gewährleistet werden;
Funktioniert gut bei niedrigem Strahlstrom und niedriger Spannung von 5 kV bei 100 pA
Orientierungsmessgenauigkeit: Besser als 0,1 Grad
Verwendung des Triplex-Indexsystems: Sie müssen sich nicht auf die Definition einzelner Bänder verlassen, einfache Indizierung bei schlechter Musterqualität
Spezielle Datenbank: EBSD-Spezialdatenbank, erhalten durch Elektronenbeugung: >400 Phasenstruktur
Indexfähigkeit: Es kann alle Kristallmaterialien von 7 Kristallsystemen automatisch indizieren.
Zu den erweiterten Optionen gehören die Berechnung der elastischen Steifigkeit (Elastic Stiffness), des Taylor-Faktors (Taylor), des Schmidt-Faktors (Schmid) usw.
A50.7010 Beschichtungsmaschine Glasschutzschale: ∮250 mm; 340 mm hoch;
Glasverarbeitungskammer:
∮88mm; 140 mm hoch, ∮88 mm; 57 mm hoch;
Probentischgröße: ∮40 ​​mm (maximal);
Vakuumsystem: Molekülpumpe und mechanische Pumpe;
Vakuumerkennung: Pirani Gage;
Vakuum: besser als 2 x 10-3 Pa;
Vakuumschutz: 20 Pa mit Mikro-Aufblasventil;
Probenbewegung: Ebenenrotation, Neigungspräzession.
A50.7011 Ionensputtern-Beschichter Glasverarbeitungskammer: ∮100 mm; 130 mm hoch;
Größe des Probentisches: ∮40 ​​mm (hält 6 Probenbecher);
Goldene Zielgröße: ∮58 mm * 0,12 mm (Dicke);
Vakuumerkennung: Pirani Gage;
Vakuumschutz: 20 Pa mit Mikro-Aufblasventil;
Mittleres Gas: Argon oder Luft mit speziellem Argongas-Lufteinlass und Gasregulierung im Mikromaßstab.
A50.7012 Argon-Ionen-Sputter-Beschichter Die Probe wurde unter Hochvakuum mit Kohlenstoff und Gold plattiert;
Drehbarer Probentisch, gleichmäßige Beschichtung, Partikelgröße ca. 3–5 nm;
Keine Auswahl des Zielmaterials, keine Beschädigung der Proben;
Die Funktionen der Ionenreinigung und Ionenverdünnung können realisiert werden.
A50.7013 Kritischer Punkttrockner Innendurchmesser: 82 mm, Innenlänge: 82 mm;
Druckbereich: 0–2000 psi;
Temperaturbereich: 0°-50° C (32°-122° F)
A50.7014 Elektronenstrahllithographie Basierend auf dem Rasterelektronenmikroskop wurde ein neuartiges Nano-Belichtungssystem entwickelt;
Die Modifikation hat alle SEM-Funktionen für die Erstellung von Bildern mit Linienbreite im Nanomaßstab beibehalten;
Das modifizierte Ebl-System wird häufig in mikroelektronischen Geräten, optoelektronischen Geräten, Quantengeräten und in der Forschung und Entwicklung von Mikroelektroniksystemen eingesetzt.

1x~600000x Emissionsscanning Elektronenmikroskop Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem 17
A63.7080, A63.7081 Standard-Verbrauchsmaterial-Outfit
1 Feldemissionsfilament Im Mikroskop installiert 1 Stk
2 Musterbecher Durchmesser: 13 mm 5 Stk
3 Musterbecher Durchmesser: 32 mm 5 Stk
4 Doppelseitiges leitfähiges Kohlenstoffband 6mm 1 Paket
5 Vakuumfett 　 10 Stk
6 Haarloses Tuch 　 1 Tube
7 Polierpaste 　 1 Stk
8 Musterbox 　 2 Taschen
9 Wattestäbchen 　 1 Stk
10 Ölnebelfilter 　 1 Stk
A63.7080, A63.7081 Standard-Werkzeug- und Teileausstattung
1 Innensechskantschlüssel 1,5 mm ~ 10 mm 1 Satz
2 Pinzette Länge 100–120 mm 1 Stk
3 Schlitzschraubendreher 2*50mm, 2*125mm 2 Stk
4 Kreuzschraubendreher 2*125mm 1 Stk
5 Entlüftungsrohr reinigen Durchmesser 10/6,5 mm (Außendurchmesser/Innendurchmesser). 5m
6 Druckminderventil entlüften Ausgangsdruck 0–0,6 MPa 1 Stk
7 Interne Backstromversorgung 0-3A Gleichstrom 2 Stk
8 USV-Stromversorgung 10kVA 2 Stk

1x~600000x Emissionsscanning Elektronenmikroskop Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem 18
Umbauten:

Portable Digital Microscope

Hand-Digital-Mikroskop

Handmikroskop

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