4,5 - 6 nm Rasterelektronenmikroskop mit hoher Vergrößerung Oberflächentopographie Eco SEM
Die Rasterelektronenmikroskopie (REM) eignet sich zur Beobachtung der Oberflächentopographie von Metallen, Keramiken, Halbleitern, Mineralien, Biologie, Polymeren, Verbundwerkstoffen und nanoskaligen eindimensionalen, zweidimensionalen und dreidimensionalen Materialien (Sekundärelektronenbild, Rückstreuelektronenbild). Es kann verwendet werden, um die Punkt-, Linien- und Oberflächenkomponenten von Mikroregionen zu analysieren. Es ist weit verbreitet in Erdöl, Geologie, Mineralbereich, Elektronik, Halbleiterbereich, Medizin, Biologiebereich, chemischer Industrie, Polymermaterialbereich, strafrechtliche Ermittlungen der öffentlichen Sicherheit, der Land- und Forstwirtschaft und anderer Bereiche.
A63.7062 Eco-Wolfram-Filament SEM | ||
Auflösung | 4,5 nm bei 30 kV (SE);6nm@30KV(BSE) | |
Vergrößerung | Negative Vergrößerung: 15x~250000x;Bildschirmvergrößerung: 30x~500000x | |
Elektronenkanone | Beheizte Wolframkathode – vorzentrierte Wolfram-Glühfadenkartusche | |
Beschleunigungsspannung | 0 ~ 30 kV | |
Linsensystem | Dreistufige elektromagnetische Linse (konische Linse) | |
Objektiv Blende | Molybdänöffnung Einstellbares Außenvakuumsystem | |
Probenstadium | Fünf-Achsen-Bühne | |
Reisebereich | X(automatisch) | 0~50mm |
Y (Automatisch) | 0~50mm | |
Z (manuell) | 0~25mm | |
R (manuell) | 360º | |
T (manuell) | -5º~90º | |
Maximaler Probendurchmesser | 150mm | |
Detektor | Hochvakuum-Sekundärelektronendetektor (mit Detektorschutz) | |
Änderung | Stufen-Upgrade;EBL;STM;AFM;Heizstufe;Kryostufe;Zugstufe;Mikro-Nano-Manipulator;REM+Beschichtungsmaschine;REM+Laser | |
Zubehör | CCD, LaB6, Röntgendetektor (EDS), EBSD, CL, WDS, Beschichtungsmaschine | |
Vakuumsystem | Turbomolekularpumpen;Rotationspumpe | |
Elektronenstrahlstrom | 10pAt~0,1μA | |
PC | Angepasste Dell Workstation |
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