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Rasterelektronenmikroskopie (sem) ist für die Beobachtung der Oberflächentopographie der Metalle, der Keramik, der Halbleiter, der Mineralien, der Biologie, der Polymere, der Zusammensetzungen und der eindimensionalen, zweidimensionalen und dreidimensionalen Materialien der Nano-skala passend (Sekundärelektronbild, umgekehrtes Elektronbild). Sie kann verwendet werden, um die Punkt-, Linien- und Oberflächenkomponenten von microregion zu analysieren. Sie ist auf Erdöl, Geologie, dem Mineralgebiet, Elektronik, Halbleiterfeld, Medizin, Biologiefeld, chemischer Industrie, materiellem Feld des Polymers, Verbrechensermittlung der öffentlichen Sicherheit, der Landwirtschaft, Forstwirtschaft und anderer Felder weit verbreitet.
| Faden SEM A63.7062 Eco Wolfram | ||
| Entschließung | 4.5nm@30KV (SE); 6nm@30KV (BSE) | |
| Lineare Wiedergabe | Negative lineare Wiedergabe: 15x~250000x; Schirm-lineare Wiedergabe: 30x~500000x | |
| Elektronenkanone | Wolfram Heizkathode-c$vor zentrierte Wolframfaden-Patrone | |
| Beschleunigungsspannung | 0~30KV | |
| Linsensystem | Elektromagnetische dreiniveaulinse (sich verjüngende Linse) | |
| Objektive Öffnung | Molybdän-Öffnungs-justierbare äußere Vakuum-Anlage | |
| Objektträger | Fünf Axt-Stadium | |
| Reise-Strecke | X (Auto) | 0~50mm |
| Y (Selbst) | 0~50mm | |
| Z (manuell) | 0~25mm | |
| R (manuell) | 360º | |
| T (manuell) | -5º~90º | |
| Maximaler Exemplar-Durchmesser | 150mm | |
| Detektor | Hochvakuum-Sekundärelektron-Detektor (mit Detektor-Schutz) | |
| Änderung | Stadiums-Verbesserung; EBL; STM; AFM; Heizungs-Stadium; Cryo-Stadium; Dehnbares Stadium; Mikro-Nano-Manipulator; SEM+Coating-Maschine; SEM+Laser | |
| Zusätze | CCD, Labor6, Röntgenstrahl-Detektor (EDS), EBSD, CL, WDS, Beschichtungs-Maschine | |
| Vakuum-Anlage | Molekulare Pumpen Turbos; Rotations-Pumpe | |
| Elektron-Strahlstrom | 10pAt~0.1μA | |
| PC | Kundengebundener Dell-Arbeitsplatz | |
Wolfram Heizkathode-c$vor zentrierte Wolframfaden-Patrone
Die elektromagnetische Linse in diesem Zylinder
Das Absperrventil garantiert, dass das obere Vakuum nicht betroffen ist, wenn der Beispielraum geöffnet ist
Objektive Öffnung
Die Probe, zum beobachteter Bedarf zu sein, sich in den Beispielraum zu setzen
Das fünf Axt-Stadium, X/Y motorisierte die Steuerung (klein)
| Verbrauchsmaterialien | ||||
| Name | Spezifikation | Quantität | Einheit | |
| 1 | Zentrierter Patronenfaden | 5 | Satz | |
| 2 | Exemplarschale | (φ13) | 10 | PC |
| 3 | Exemplarschale | (φ32) | 10 | PC |
| 4 | Leitfähiges Band des Kohlenstoffs (doppelte Seite) | 6mm | 1 | PC |
| 5 | Vakuumfett | 1 | Flasche | |
| 6 | Fusselfreier Stoff | 20 | PC | |
| 7 | Entlüftung-Rohr | 5 | Meter | |
| 8 | Polierpaste | 1 | Satz | |
| Werkzeuge | ||||
| Name | Quantität | Einheit | ||
| 1 | Inbusschlüssel | 1 | Satz | |
| 2 | Säubern Sie Stock | 1 | PC | |
| 3 | Übertrieben | 1 | PC | |
| 4 | Öffnung, die Werkzeug entfernt | 1 | PC | |
| 5 | Pinzette | 1 | PC | |
| 6 | Schraubenzieher | 2 | PC | |
Hochvakuum-Sekundärelektron-Detektor
Optionale zusätzliche Verbindungs-Schnittstelle
A63.7062 Fenster der Unterstützungsdrei synchron, zwei Chanel (SE+BSE) mit CCD-Fenster; Bildauflösung: Pixel 4096*4096
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